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A study of interaction forces at the solid-liquid interface using atomic force microscopy

机译:利用原子力显微镜研究固液界面的相互作用力

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摘要

Solid-liquid interfaces are not only omnipresent in our daily lives, but also in many applications in industry and technology. However, our fundamental understanding of the physical properties of these interfaces is far from complete. In this thesis, we study properties, such as solvation forces, DLVO forces and electro-hydrodynamic dissipation of solid-liquid interfaces by the use of AFM. Thereby, we study various methods of AFM force spectroscopy, to find reliable and efficient measurements under liquid. Techniques explored include thermal noise spectroscopy (TNS), amplitude modulation (AM) with piezo excitation and photothermal excitation. With these techniques, we investigate solvation forces in non-polar liquids and water, DLVO forces, and electro-hydrodynamic dissipation in the electric double layer (EDL).
机译:固液界面不仅在我们的日常生活中无所不在,而且在工业和技术中的许多应用中也无处不在。但是,我们对这些接口的物理属性的基本了解还远远不够。本文通过原子力显微镜研究了固液界面的溶剂化力,DLVO力和电-液动力耗散特性。因此,我们研究了AFM力谱的各种方法,以找到在液体下可靠而有效的测量方法。探索的技术包括热噪声光谱(TNS),具有压电激励和光热激励的调幅(AM)。利用这些技术,我们研究了非极性液体和水中的溶剂化力,DLVO力以及双电层(EDL)中的电动流体动力耗散。

著录项

  • 作者

    Liu, Fei;

  • 作者单位
  • 年度 2016
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

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